Inspectie maakt het verschil

SAC levert naast Vision inspectiesystemen voor de coplanarity van connectoren of shielding systemen, ook trim en form inspectiesystemen. Een discipline die daar op aansluit is het meten van particle deposition in cleanrooms. De technieken die ingezet kunnen worden voor metingen in de semiconductor industrie lopen van lijnscantechniek tot Depth from shading.



Trim and Form 

Trim en form Vision inspectie voor een Belgische fabrikant van hall sensoren. Om compact te bouwen zijn alle telecentrische lenzen en camera's rechts horizontaal gemonteerd. De ophanging is gedaan via de zware lenzen. Door gebruik te maken van spiegels worden de beelden verkregen. De onderbelichting is gemaakt met een diffusor die mee draait en vanaf de vaste wereld wordt aangestraald zodat er geen draaiende kabel verbindingen zijn.

Semiconductor assemblage

Voor een Finse fabrikant worden gespoten producten gecontroleerd. Met twee camera's worden de pinnen gecontroleerd. Met de bovencamera en de kleine domebelichting wordt de maatvoering gecontroleerd en gekeken of er verontreiniging is opgetreden tijdens het spuitproces. De domebelichting voorkomt metaalreflecties.

Wilt u meer weten?

Neem contact met ons op